在设计、验证和制造射频及微波设备时，有必要使用频谱分析仪搜索杂散。
卫星应用中的发射机和接收机设备必须满足极其严苛的杂散限值。这就意味着要在宽频率范围内检测极低电平的杂散。一般情况下，需要使用窄分辨率带宽 (RBW) 以便在高灵敏度下进行测量，但这样一来，测量时间要长得多。即使采用配备 FFT 滤波器的快速频谱分析仪，杂散检测也可能花费数小时甚至数天。
一种新型杂散检测算法可自动执行杂散测量并提高测量速度。
R&S®FSW-K50 杂散测量应用可通过三步法检测并确定杂散。首先通过快速扫描测定RBW。然后进行二次扫描检测可能的杂散。每个已知杂散频率的最终高速搜索可确定峰值是实际杂散、噪声伪像还是分析仪内部杂散。进一步降低 RBW 以满足信噪比要求。
R&S®FSW-K50 杂散测量应用的测量流程
1.频谱视图和噪声基底估算
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预计测量时间
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带RBW 的分段表格
2.杂散检测
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杂散检测限值通过 / 失败
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初步杂散表格
3.杂散点搜索
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通过 / 失败
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最终杂散表格
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优化的 RBW（如需）
宽范围杂散搜索的测量设置。在每个频率分段范围的均可配置参数。
与传统的杂散测量应用相比，R&S®FSW-K50 具备多种优势：
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杂散检测速度比现有频谱分析仪快 30 倍，尤其是在低RBW 的情况下
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根据允许的杂散水平值和所需信噪比自动计算 RBW
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具备两种不同的测量模式：适用于未知杂散场景的宽范围检测，以及适用于特定频率的定向检测
杂散测量应用结果屏幕。
缩放杂散点搜索。降低杂散的 RBW 以减少噪声基底并满足用户设定的 SNR 要求，同时测定峰值是否为真正的杂散。
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